
- Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında
- Metal ve alaşım analizlerinde
- Seramik ve çimento sanayiinde
- İnce film kompozisyonu tayininde
- Polimerlerin analizinde
- İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde
- Arkeolojide, tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde
- XRD (Metal, Polimer, İnce Flim, Seramik, Çimento Maden, Mineral Analizi)
- XRD cihazı ile Kalitatif faz (mineralojik) analizi 1 (patern çekimi ve tanımlama)
- XRD ile Kalitatif böbrek taşı analizi
- XRD ile Kantitatif faz (mineralojik) analizi -Rietveld
- XRD Cihazı ile kalıntı gerilmesi analizi
- XRD Cihazı ile yüksek sıcaklık faz analizi 2000 dereceye kadar
- XRD Cihazı ince film analizi
- XRD Cihazı ile noktasal faz analizi
- Stress testi
Toz Numuneler: Analizi yapılacak numuneler, ince öğütülmüş toz halinde Laboratuvara ulaştırılmalıdır. Değişik fiziksel ve kimyasal işlemlere tabi tutulmuş numuneler hakkında yeterince bilgi verilmelidir. Laboratuvara toz halinde iletilecek numune miktarı, kayaç örnekleri için yaklaşık 10 gr.; laboratuvarda sentezlenen ve fazla miktarda temini mümkün olamayan örnekler için ise en az 100-150 mgr olmalıdır.
İnce Filmler: Laboratuvara iletilecek ince film örnekleri minimum 1×1 cm boyutlarında hazırlanmalı ve 7 mm. den daha kalın olmamalıdır.
Katı Numuneler:
Cevher Numuneleri: Max 6 kilo ve yüzeyi düz olmalıdır.
X-Işını Kırınım ölçümü ile (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin fazı için bu kırınım desenleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz yöntemi, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal malzemelerin, ince filmlerin ve nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir. Cihaza ait teknik özellikler aşağıda verilmiştir;
X-Işını Tüpü: Co.
Çalışma Voltaj Aralığı: 20-40 kV.
Çalışma Akım Aralığı: 5-60 mA.
Gonyometre çapı 480 mm. Dikey gonyometre, teta-teta ve alfa-1 geometrilerinde.
En küçük adım büyüklüğü 0.00010 (θ/2θ).
XRD cihazı yüksek çözünürlükte tarama yapabilecek ve gonyometre tarama hızı 0.0001°/dak ve 70°/dak. Bir açıdan diğer açıya geçiş hızı 500°/dak.
Maksimum kullanılabilir ölçüm açıları: -111< 2 θ <168 derece.
Piksel tabanlı hızlı dedektör; dijital mikro işlemci kontrollü uzun ömürlü ve maksimum sayım kapasitesi 1×10 6 sinyal/sn, minimum piksel alanı 70 mikron x 70 mikron, yatayda en az 4° (2θ) açısal alanda sabit (snapshot) modunda hiç hareket etmeden ölçüm yapabilme.
2D haritalama.
Bragg-Brentano optik modülü.